Las pruebas de fiabilidad son muy importantes en el proceso de diseño de componentes electrónicos. Ayuda a detectar fallos en los productos en las primeras fases, a calcular un tiempo de calibración/garantía razonable y a conocer las prestaciones a largo plazo del producto bajo condiciones extremas, etc. La fiabilidad se expresa en tiempo medio hasta el fallo (MTTF), tiempo medio entre fallos (MTBF) y esperanza de vida. Se calculan estadísticamente basándose en pruebas ambientales de muestreo realizadas bajo condiciones de laboratorio estrictamente controladas. Las normas IEC [1] y MIL [2] se han constituido como normas representativas para las pruebas ambientales en electrónica.
