Los circuitos integrados (CI) de hoy en día funcionan con mayor rapidez que nunca. La aceleración de la velocidad de funcionamiento puede dar lugar a una demanda de alimentación muy dinámica de la fuente de alimentación, lo que supone todo un desafío durante las pruebas si la potencia se alimenta utilizando fuentes programables. Las formas de onda de corriente de alta velocidad pueden provocar caídas de tensión en el CI. Si la caída de tensión es muy pronunciada, puede hacer que el microprocesador se reinicialice o provocar anomalías en los resultados de las pruebas. Este artículo explica por que se produce esa caída de tensión y como mitigarla.
