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Título Artículo En paralelo y rentable: pruebe más con menos, optimizando su sistema de testArtículo de Revista
Parte de Revista Española de electrónica
N.692-693 (Jul.-Ago. 2012)
Pagina(s) 52-53
Autor(es) Justin, Jervin (Autor)
Idioma Español;
Materia(s) Telecomunicaciones - Procesamiento de datos; Teléfono movil; Software (Computadores electrónicos) - Control de calidad;
Resumen La explosión reciente en la tecnología electrónica de consumo es impresionante. Hoy en día, mucha gente tiene un teléfono inteligente. Sin embargo, a medida que la compeljidad y funcionalidad de estos dispositivos creció exponencialmente (de acuerdo a la Ley de Moore), también lo hizo el coste detestearlos. Encontrar formas de minimizar el coste de test puede ser un reto, pero es una manera de testear más con menos.