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Título Revista
IEEE. Design & Test of Computers
Encabezado de Seriada
Autor(es)
IEEE Council on Electronic Design and Automation, (Autor Corporativo)
Publicación
California : IEEE Council on Electronic Design and Automation, 1984-2012
Descripción Física
volúmenes : ilustraciones ; 27 cm.
Idioma
Inglés;
ISSN
0740-7475
Materia(s)
Informática -- Publicaciones seriadas
;
Ingeniería de Sistemas -- Publicaciones seriadas
;
Nota(s)
Bimestral
Emisiones Recibidas
Vol. 14 No.1 (1997)
Vol. 25 No.4 (2008) Ej.1: Design in the Late - and Post - Silicon Eras
Vol. 25 No.3 (2008)
: Special Issue On Silicon Debug adb Diagnosis.
Vol. 25 No.2 (2008): The Current State of Test Compression
Vol. 25 No.1 (2008): Desing and Test of RFIC Chips
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