IEEE. Design & Test of Computers - Sistema de Solicitudes - Universidad San Buenaventura

Título Revista	IEEE. Design & Test of ComputersEncabezado de Seriada
Autor(es)	IEEE Council on Electronic Design and Automation, (Autor Corporativo)
Publicación	California : IEEE Council on Electronic Design and Automation, 1984-2012
Descripción Física	volúmenes : ilustraciones ; 27 cm.
Idioma	Inglés;
ISSN	0740-7475
Materia(s)	Informática -- Publicaciones seriadas; Ingeniería de Sistemas -- Publicaciones seriadas;
Nota(s)	Bimestral
Emisiones Recibidas	Vol. 14 No.1 (1997) Vol. 25 No.4 (2008) Ej.1: Design in the Late - and Post - Silicon Eras Vol. 25 No.3 (2008) : Special Issue On Silicon Debug adb Diagnosis. Vol. 25 No.2 (2008): The Current State of Test Compression Vol. 25 No.1 (2008): Desing and Test of RFIC Chips
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