En esta segunda parte se examinan aspectos específicos para los sistemas de comunicación desarrollados a partir de arquitecturas multi-módulo de canal único hacia arquitecturas de un solo módulo, tras lo cual se estudian las implicaciones de esta evolución sobre las prestaciones del convertidor A/D y se revisa la influencia del ruido de fase del reloj de muestreo tomando como referencia el muestreo sub-Nyquist. Finalmente, se indica la forma de analizar el impacto de fuentes de ruido múltiples y no relacionadas entre sí sobre la SNR total, establecer una relación entre ésta y el jitter del reloj, y presentar un ejemplo que ilustra los diferentes requisitos del jitter para diferentes resoluciones del convertidor A/D.
