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Artículo de Revista
Parte de
Mundo Electrónico
N. 402-405 (Nov-Feb.2008)
Pagina(s) 38-42
Autor(es)
Lau, Stephen (Autor)
Idioma
Español;
Resumen
Existen nuevas herramientas que proporcionan un acceso continuo y en tiempo real sin precedentes a los datos internos del chip, permitiendo así a los diseñadores encontrar y solucionar con rapidez los problemas más difíciles de detectar.
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