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Título Artículo El reto de LTE para la instrumentaciónArtículo de Revista
Parte de Mundo Electrónico
N. 407-410 (Abr-Jul.2009)
Pagina(s) 26-32
Autor(es) Salgado, Juan José (Autor)
Idioma Español;
Resumen La nueva generación de comunicaciones móviles responde a las siglas LTE (Long Term Evolution), con un nuevo salto en prestaciones que impone nuevas exigencias a los sistemas de medida y comprobación. Un reto nada sencillo tanto por las especificaciones de esta tecnología como por la presión de los fabricantes desde la fase de simulación y despliegue inicial.
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